Odal писал(а):
Я же написал и вы даже процитировали. Выделил в цитате красным. Что мешает измерить попиксельно дистанции между центрами делений на разных участках шкалы и определить таким образом участок её, имеющий наименьшие отклонения? Можно провести кучу дополнительных измерений и расчёт погрешности, выяснив и соответствие масштаба съёмки реального с параметрами объектива и оптической системы, зная её параметры и шаг пикселя, пределы разрешения объектива, проверив и скорректировав это значение при необходимости.
И повысить точность своих измерений, снизив их погрешность. И вообще речь шла не об определении масштаба съёмки поточнее, хотя это по ходу дела тоже можно сделать, разумеется, а в первую очередь об _измерениях_ объектов и их деталей.
Как что? Отсутствие более точного эталона и мешает! Хоть красным выделяй, хоть серо-буро-малиновым, а "определить участок, имеющий наименьшие отклонения" можно исключительно том случае,
если имеется то, отклонения от чего следует измерять. Если не имеется, то ни высоко апертурный объектив, ни мелкий пиксель не помогут. А если оно имеется (вот только сейчас Вы о неких кремниевых пластинах упомянули), то процедура определения участка объекта-микрометра с наименьшей погрешностью, равно как и сам объект-микрометр вдруг становятся лишними. Элементарная логика!