Mildi писал(а):
Схематичный рисунок был бы более нагляден.
Конфигурация микроскопа представлена на рисунке 1 (a) и состоит из лазерного источника света, направленного в оптическую систему микроскопа с помощью многомодового оптоволоконного осветителя. Лазерный свет, который перемешивается (снятие когерентности) перед попаданием в микроскоп, направляется через поляризатор и дифракционную решетку, а затем проецируется на образец. Только дифракционные порядки -1, 0 и +1 фокусируются на задней апертуре объектива, и они коллимируются объективом в фокальной плоскости образца, где они интерферируют и создают трехмерную (боковую и осевую) синусоидальную диаграмму освещения ( Рисунок 1 (б)). Флуоресцентное излучение, создаваемое образцом, фиксируется камерой CCD. Функция рассеяния точки для структурированного освещения со сверхвысоким разрешением резко снижена (рис. 1 (d)) по сравнению с широкопольной флуоресценцией. Как будет описано ниже, поперечное разрешение SR-SIM приближается к 100 нанометрам или лучше, тогда как осевое разрешение улучшается примерно до 300 нанометров.
http://zeiss-campus.magnet.fsu.edu/arti ... ersim.html
________________
Leitz Laborlux S
Olympus BX51
| Вложения: |
|
225BC134-5605-4320-ABFD-4FD374278133.jpeg [ 86.6 КБ | Просмотров: 11731 ] |